Kompakt-Rasterelektronenmikroskop zur hochauflösenden Abbildung und Charakterisierung
- ArtAusschreibung
- BrancheAllgemein
- Datum24.09.2026
- Angebotsfrist27.10.2026
- AuftraggeberFriedrich-Schiller-Universität Jena
Es wird ein Kompakt-Rasterelektronenmikroskop benötigt, das hochauflösende Bilder erstellen und Materialien charakterisieren kann. Unternehmen müssen wahrscheinlich dieses spezielle Gerät liefern und eventuell auch dafür sorgen, dass es installiert und betriebsbereit ist.
Die vollständige Zusammenfassung erklärt in einfacher Sprache, worum es geht und was das konkret für Privatpersonen und für Unternehmen bedeutet.
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