Semi-Automatic Wafer Prober System for Characterization of 200-mm Wafers
- ArtAusschreibung
- BrancheAllgemein
- Datum29.09.2026
- Angebotsfrist29.10.2026
- AuftraggeberIHP GmbH - Lebniz-Institut für innovative Mikroelektronik
Gesucht wird wahrscheinlich ein halbautomatisches System für die Prüfung und Charakterisierung von 200-mm-Wafern. Unternehmen müssen wahrscheinlich ein solches System liefern oder installieren, um die geforderten Prüf- und Analysefunktionen bereitzustellen.
Die vollständige Zusammenfassung erklärt in einfacher Sprache, worum es geht und was das konkret für Privatpersonen und für Unternehmen bedeutet.
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